本发明提供的一种半导体自动化检测装置,包括振动上料盘、出料轨道和底座,振动上料盘的出料端固定有出料轨道,振动上料盘靠近出料轨道的一侧设置有底座,底座上表面的中部对称固定有立杆,立杆的上端滑动连接有滑套,两个滑套的一侧固定有升降框,升降框远离滑套一侧的内壁对称固定有连接板,两个连接板的内侧等距设置有若干个检测压板,检测压板的一侧等距固定三个导电片;本发明在三极管检测时能够做到三极管不停歇的进行输送和检测,即三极管在输送的过程中即能够完成检测工作,相较于传统的三极管性能检测装置而言,不需要三极管间歇停止进行检测,从而极大的提高了检测的效率。
声明:
“一种半导体自动化检测装置及检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)