探针伺服角度控制方法及控制模块、基于该控制模块的成像系统及该系统的成像方法,涉及采用原子力显微镜进行微纳米结构表面扫描成像的技术。它为了解决传统的原子力显微镜无法对具有大倾角外斜表面、垂直侧壁表面、内斜表面等结构表面实现连续可控分辨率三维扫描成像的问题。本发明通过控制探针针针尖在YZ平面内实时沿与XZ表面成Φ角的矢量上接近样品表面进行扫描,Φ值可以自动根据已扫描的样品表面信息进行动态调节,以此实现不同角度的表面的等分辨率扫描,有助于提高对微纳米结构性能检测及检测效率,从而为超大规模集成电路和甚超大规模集成电路检测提供了一种重要的工具。
声明:
“探针伺服角度控制方法及控制模块、基于该控制模块的成像系统及该系统的成像方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)