本发明涉及薄膜物理性能检测技术领域,尤其涉及一种薄膜热收缩率的测量方法及测量装置。该测量方法包括:加热前,测量薄膜样品的长度为薄膜初始长度L1;将该薄膜样品置于加热设备中加热;将该薄膜样品从加热设备中取出、冷却,拉伸该薄膜样品使其处于张紧状态,记录此时该薄膜样品的长度为薄膜变形后长度L2,根据所述薄膜初始长度L1、薄膜变形后长度L2、结合收缩率的计算公式计算出薄膜的热收缩率。该测量方法用于解决薄膜加热变形后的长度测量不准确的问题。
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