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探测器高光性能的评估系统及评估方法

664   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:28:25
探测器高光性能的评估系统及评估方法,涉及一种探测器高光性能的评估方法,解决现有方法进行高光性能检测过程中,当入射光能量增加到所有探测器都饱和时,进一步增加光强后无法检测出图像是否出现异常的问题,为此,在探测器应用前对探测器的高光性能进行测试,评估在轨成像效果,可减小潜在的损失,提高在轨的观测效率。本发明提出基于方向性光源、带黑白图案的滚筒进行探测器的高光性能评估,利用滚筒进行目标的时刻变化,从而可以进行目标亮暗分区的边界进行判断,避免使用积分球在强光目标下所有的像素均进入饱和状态,掩盖了可能出现的拖尾、高光溢出等现象。
声明:
“探测器高光性能的评估系统及评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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