本发明属于材料性能测试领域,涉及一种基于氧化锌微米线的原位弯曲下力电性能测试方法。其特征是将单根氧化锌微米线的一端用银胶固定在表面有绝缘膜的单晶硅基底上,另一端用探针拨动实现弯曲;在弯曲的同时,通过在探针和银胶间加扫描电压信号,实现对其电学性能的原位实时测量。本发明的优点在于:将环境平台与吉时利4200这两种仪器有机结合,实现了对单根氧化锌力电性能的检测,其操作简便,实时性强,而且应用范围广泛,便于多种一维结构微纳材料的力电性能检测。
声明:
“一种基于氧化锌微米线的原位弯曲下力电性能测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)