本发明公开了OIS技术领域的一种OIS测试设备;包括测试转盘、固定测试架、上料架和上料盘,固定测试架和上料架呈水平对称设置于测试转盘两侧,测试转盘、固定测试架和上料架的底部共同设置底板,测试转盘包括转盘,转盘上对称设置有四个固定装置,转盘的上方设置固定板,固定板靠近上料架一侧的顶部设有推动气缸。本发明的有益效果是:实现OIS零部件的自动上料,减少OIS零部件性能检测时的人工成本浪费。同时通过多个固定装置上的多个放置槽进行OIS零部件的放置,使一次动作即可对两个OIS零部件进行同一项性能测试,进而实现OIS零部件的性能比对测试,使OIS零部件的测试结果更加趋向于单批次零部件的平均水平。
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