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一种半导体激光器的测试系统及测试方法

794   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:27:34
本发明公开了一种半导体激光器的工作性能检测技术,具体地说是一种半导体激光器的测试系统及测试方法,属于半导体光电器件的制造技术领域。它包括待测光器件以及用于放置待测光器件的高低温循环箱,待测光器件与一个能够为待测光器件提供电流的电流源连接,待测光器件还与一个能够测试其出光功率的光功率计连接,电流源和光功率计的输出信号端均连接到一台计算机上。采用上述的结构和方法后,可以方便、有效、迅速地进行检测,预先判定一个激光器的工作稳定性和失效模式,从而大大缩短了检验的周期和降低了检验的成本,同时对生产过程进行有效的管控,将产品成本降到最低,同时保障了客户利益,其测试的方法简单方便,测试系统搭建的成本低。
声明:
“一种半导体激光器的测试系统及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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