本发明公开了一种eMMC质量检测修复方法、装置及存储介质,其中该方法包括:读取eMMC
芯片的协议版本信息及生产日期,非失真寄存器及只读信息,获取所述eMMC芯片的第一质量状态;读取所述eMMC芯片的数据存储区,判断是否全为默认值,提取分区特征,获取所述eMMC芯片的第二质量状态;对所述eMMC芯片进行读取擦除性能检测,获取所述eMMC芯片的第三质量状态;根据第一质量状态、第二质量状态及第三质量状态生成所述eMMC芯片的质量评估结果;根据所述质量评估结果,对所述非失真寄存器开启的功能进行关闭,通过擦除命令修复数据存储区,并对读写性能进行修复。简要描述技术效果。本发明通过多种方式检测,检测修复的覆盖面广,准确率高,贴近用户实际使用需求。
声明:
“eMMC质量检测修复方法、装置及其存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)