本发明公开了一种低维光电材料的性能测试装置,涉及光电材料检测技术领域,解决了现有装置未设置可以对
多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测的结构的问题。一种低维光电材料的性能测试装置,包括工作台;所述工作台顶部固定连接有控制部;所述工作台顶部右侧固定连接有稳定台,稳定台顶部通过铰连接设置有往复丝杆;所述工作台顶部左侧固定连接有遮光箱,遮光箱内部设置有光电转换性能检测机构;通过控制往复丝杆持续转动,可以控制两组立架进行相反方向的往复平移,可以使多晶硅薄膜进行往复弯折,通过控制部实时监测薄膜电流情况,可以对多晶硅薄膜进行弯折疲劳度检测。
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