本实用新型公开了一种连续检测射频部分中
芯片电性能的检具,龙门架(5)横梁的底部固设有水平气缸(12),水平气缸(12)活塞杆的作用端上固设有连接板(13),真空盘(14)的左侧壁上焊接有与其内腔连通的真空管(15),真空盘(14)与
真空泵(20)连接;龙门架(5)横梁的顶部固设有升降气缸(16)和电性能检测设备(17),升降气缸(16)的活塞杆贯穿横梁设置,且延伸端上固设有升降板(18),电性能检测设备(17)的两个接触头(19)均固设于升降板(18)上,且两个接触头(19)均贯穿升降板(18)设置。本实用新型的有益效果是:极大提高射频部分中芯片的检测效率、极大减轻工人工作强度、操作简单。
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