本发明适用于电路测试领域,提供了一种压敏电阻的测试方法,所述方法包括下述步骤:在被测压敏电阻的两端加载高频率交流电,所述交流电的电压低于被测压敏电阻的标称额定电压;在与被测压敏电阻相连的旁路元件的高点端接入隔离所述旁路元件的隔离电路;计算被测压敏电阻的电容值,将被测压敏电阻的电容值与设定的阈值范围进行比较,判断被测压敏电阻是否为良品。通过本发明可以大大提高压敏电阻电性能检测的准确性和稳定性,能够有效地检查出FPC上搭载的压敏电阻的各项电性能不良,实现完全的电性能检查。
声明:
“一种压敏电阻的测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)