本发明公开了一种电子元器件外观测试装置,包括底板,所述底板上设置有自前至后依次布置的外观检测机构、涡流检测机构和分料机构,所述外观检测机构和涡流检测机构的上方设置有抓料机构,所述抓料机构用以将产品抓送至外观检测机构中进行外观检测,并将外观检测之后的产品抓送至涡流检测机构中进行性能检测,所述分料机构用以将性能检测之后的产品进行分类收集。本发明一种电子元器件外观测试装置具有减小外观测试误差、提高工作效率、降低人工成本的优点。
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