本发明提供了一种
芯片检测标记计数方法及其设备,包括以下步骤:开启电机,芯片前进,芯片依次经过到位检测工位、次品芯片检测工位、芯片读写性能检测工位、标记工位。在此过程中,次品芯片检测工位对芯片的孔进行检测,芯片读写性能检测工位对芯片进行读写性能检测,标记工位按照前述检测反馈的信息对芯片进行新的标记。本发明提供的方案具有较高的自动化程度,节省空间,便于操作,能够进行个性化标记,可广泛地在IC卡生产企业中应用。
声明:
“一种芯片检测标记计数方法及其设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)