本实用新型公开一种用于检测微型LED
芯片(1)质量的分检装置,微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多个LED晶片(11);多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12),且分别具有独立的第一正电极(13);分检装置包括电性能检测单元(2),电性能检测单元(2)包括检测单元主体(21)以及一个第二正电极(22)和一个第二负电极(23)。通过将多个LED晶片(11)以共阴极和共阳极的方式电连接到电性能检测单元(2)上,当电性能检测单元(2)与外界电源连接时,多个LED晶片(11)相当于并联形式连接到电源上,从而同时检测出多个LED晶片(11)的发光情况,完成分区域检测,较以往单颗点亮提高了效率,微型LED得以实现快速质量检测。
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