合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 物理检测技术

> 一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置

一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置

653   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:25:54
本实用新型公开一种用于检测微型LED芯片(1)质量的分检装置,微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多个LED晶片(11);多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12),且分别具有独立的第一正电极(13);分检装置包括电性能检测单元(2),电性能检测单元(2)包括检测单元主体(21)以及一个第二正电极(22)和一个第二负电极(23)。通过将多个LED晶片(11)以共阴极和共阳极的方式电连接到电性能检测单元(2)上,当电性能检测单元(2)与外界电源连接时,多个LED晶片(11)相当于并联形式连接到电源上,从而同时检测出多个LED晶片(11)的发光情况,完成分区域检测,较以往单颗点亮提高了效率,微型LED得以实现快速质量检测。
声明:
“一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
物理检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记