本发明提供的一种基于电子元件性能数据的元件筛选方法及系统,涉及数据处理技术领域。在本发明中,基于获取的性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据进行解析处理,得到每一个电子元件的性能是否存在异常的解析结果,其中,每一组性能检测数据包括对应的一个电子元件通过进行多次性能检测得到的多条性能检测数据;基于电子元件对应的解析结果确定是否将电子元件作为筛选出的目标电子元件;若电子元件对应的解析结果为电子元件的性能不存在异常,则将电子元件作为筛选出的目标电子元件。采用以上步骤对电子元件进行筛选,可以提高对电子元件进行筛选的可靠性。
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