合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 物理检测技术

> 一种芯片外观不良识别方法和系统

一种芯片外观不良识别方法和系统

687   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:25:53
本发明提出了一种芯片外观不良识别方法和系统,所述方法包括:在芯片进入电性能检测装置之前的传送装置上,对准备进行电性能检测的待测芯片进行扫描和第一次自然数编码;在电性能检测装置的过程中,将所述存在不良外观标定识别码及所述存在不良外观标定识别码的芯片所对应的第一次自然数编码发送至所述电性能检测装置的控制系统中;在进入所述电性能检测装置之后,且在所述电性能检测装置在对每个芯片进行电性能检测之前,按芯片传送顺序进行芯片扫描,并对扫描到的芯片进行第二次自然数编码;利用所述不良外观标定识别码、第一次自然数编码和第二次自然数编码,确定是否对所述待测芯片进行电性能检测。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。
声明:
“一种芯片外观不良识别方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
物理检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记