本实用新型涉及电子元器件检测技术领域,公开了一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置,所述底架的内部设置有第三电动伸缩杆,所述第三电动伸缩杆的伸缩端连接有伸缩架,所述伸缩架的下表面在放置板的上方设置有放置架,所述放置架的内部设置有检测块,所述放置板的上表面设置有检测板,所述检测板的上表面设置有安装板,且检测板的上表面在安装板的后方设置有夹紧板。通过底架内部设置的第三电动伸缩杆的工作,能够调节伸缩架的高度,同时利用第二电动伸缩杆的工作可调节放置架的位置,并利用第一电动伸缩杆的工作可将卡板与检测块分开,这样能够将检测块释放,从而通过检测块可对检测板上的电子元器件冲击检测。
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