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集成电路性能检测装置

1031   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:25:06
本发明提供了一种集成电路性能检测装置,包括电控箱,设置在电控箱上部的测试平台,设置在测试平台上部右侧一端的进料槽,在进料槽左侧末端设置有翻转机构,在翻转机构后端设置有上下料机构,在翻转机构的左侧末端设置有测试定位机构,测试定位机构后端设置测试插头机构,测试插头机构的左侧末端设置有分拣机构,在分拣机构的左侧一端设置有CCD相机检测机构,CCD相机检测机构左侧设置有出料槽。本发明提供了一种测试装置,该测试装置从上料和下料均采用机械化自动检测,不需要人工进行辅助,检测效率高,可以达到工业生产的需要。
声明:
“集成电路性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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