本实用新型公开了高密度存储一体化
芯片性能检测设备,包括检测设备主体,所述检测设备主体的上端外表面设置有外壳罩,所述外壳罩的上端外表面设置有顶盖和绞座,所述绞座的一侧外表面设置有扣件。通过在检测设备主体的上端外表面设置外壳罩,在外壳罩的上端外表面设置顶盖,顶盖的上端而表面设置有卡件,有利于检测设备处于较为密闭的环境,使检测的数据更加精确,通过在一号载盘的下端外表面设置电动伸缩杆、滑板和一号滑轨,一号载盘的上端外表面设置吸盘和滑杆等部件,有利于使用者将芯片从顶盖处放在一号载盘上,之后一号载盘带着芯片来到吸盘下方,吸盘再将芯片吸至
检测仪器处的二号载盘上,有利于实现自动上料。
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