本实用新型提供用于电子
芯片性能检测用测试座,涉及测试座装置技术领域,包括底座和测试板,所述测试板的底面设有转换板,且转换板与测试板的底面螺栓连接,且转换板与测试板电性连接,所述转换板的底面设有探针板,且探针板与转换板的底面螺栓连接,且探针板与转换板电性连接,所述测试板的底面固定有卡合块。采用转换板的设计,在测试板的底面设有可拆卸的转换板,转换板的底面设有测试用的探针板,且转换板分别与测试板、探针板电性连接,这种设计使测试座可以测试不同规格的电子芯片,只需要简单更换不同规格的转换板和探针板,减少了测试成本。
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