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用于电子芯片性能检测用测试座

936   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:23:55
本实用新型提供用于电子芯片性能检测用测试座,涉及测试座装置技术领域,包括底座和测试板,所述测试板的底面设有转换板,且转换板与测试板的底面螺栓连接,且转换板与测试板电性连接,所述转换板的底面设有探针板,且探针板与转换板的底面螺栓连接,且探针板与转换板电性连接,所述测试板的底面固定有卡合块。采用转换板的设计,在测试板的底面设有可拆卸的转换板,转换板的底面设有测试用的探针板,且转换板分别与测试板、探针板电性连接,这种设计使测试座可以测试不同规格的电子芯片,只需要简单更换不同规格的转换板和探针板,减少了测试成本。
声明:
“用于电子芯片性能检测用测试座” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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