本发明公开一种耳机本体抗干扰性能检测装置及其检测方法,属于耳机检测技术领域,包括底座,底座上设有对耳机进行晃动调节的调节机构,调节机构的顶端上设有对耳机进行固定的第一固定机构,底座上位于第一固定机构的一侧上设有两个第一电控伸缩柱,第一电控伸缩柱的顶端上设有干扰源,底座上位于第一固定机构的另一侧上设有滑槽,滑槽内滑动连接有滑动块,滑动块的顶端设有第二电控伸缩柱,第二电控伸缩柱的顶端设有放置台,放置台上设有对手机进行固定的第二固定机构;本发明通过设有的调节机构,可带动耳机在晃动的同时进行轻微的震动,可更加真实的模拟出耳机在使用时的环境,从而提高检测的准确率。
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