本实用新型公开了用于半导体性能检测的测试台,包括检测机构、支撑机构,所述检测机构包括工作台、工具盒、检测面板,所述工作台内侧安装有所述工具盒,所述工作台上端面安装有所述检测面板,所述检测面板后部设置有静电除尘网,所述检测面板一侧安装有显示屏,所述检测面板上方设置有支架,所述支架内侧安装有温度扫描仪。本实用新型结构简单,设计合理,生产成本低,可以同时检测若干个半导体,极大的提高了工作效率,同时方便调节装置的高度,实用性高。
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