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智能芯片性能检测机构

831   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:22:40
本实用新型涉及检测设备的技术领域,特别是涉及一种智能芯片性能检测机构,其通过设置,节省人力检测和记录,提高检测的效率;包括检测箱、隔板、蓄电池、中央处理器、故障标记存储模块、L型板、第一螺栓、电动推杆、检测头、滑块和固定台,检测箱内设有空腔,隔板固定安装在检测箱内,蓄电池底端和隔板顶端固定连接,中央处理器底端和隔板顶端固定连接,蓄电池和中央处理器电连接,故障标记存储模块底端和隔板顶端固定连接,中央处理器和故障标记存储模块电连接,L型板顶端和隔板底端通过第一螺栓螺装连接,电动推杆右端和L型板左端固定连接,电动推杆顶端和隔板底端固定连接,电动推杆的输出端和检测头固定连接,检测头和中央处理器电连接。
声明:
“智能芯片性能检测机构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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