合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 物理检测技术

> 用于取向硅钢片性能检测的单片磁导计、检测装置及检测方法

用于取向硅钢片性能检测的单片磁导计、检测装置及检测方法

712   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:22:14
本发明公开了一种用于取向硅钢片性能检测的单片磁导计,包括U型上磁轭、U型下磁轭、初级线圈绕组、次级线圈绕组、H线圈绕组及支撑板;次级线圈绕组位于初级线圈绕组内部且均布置在支撑板上,待测试样放置于支撑板上且位于次级线圈绕组中间,H线圈绕组位于待测试样下表面中间部位的下方;H线圈绕组包括3~5个大小相等、等间距分布且串联布置的H线圈单元,所有H线圈单元沿待测试样的中心轴对称分布在待测试样下表面中间部位的下方。还提供一种检测装置和检测方法,采用H线圈绕组直接测量电工钢带单片试样的磁极化强度和采用数字空气磁通补偿的检测方法测得的结果更接近样品真实值。
声明:
“用于取向硅钢片性能检测的单片磁导计、检测装置及检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
物理检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记