本发明涉及晶体管检测技术领域,尤其为VDMOS垂直栅场效应晶体管性能检测装置,包括电路板和晶体管,所述电路板的顶端固定连接有挡板,所述挡板的顶端一侧固定连接有水平设置的电热丝,所述电路板的顶端电性连接有钢丝,所述钢丝的另一端固定连接有水平设置的压板,所述压板的顶端固定连接有竖直设置的弹簧,且弹簧的顶端与电路板的底端固定连接,本发明中,通过设置的电热丝、曲杆和金属丝实现对高温状态下的晶体管的稳定性测试,能够检测晶体管能否在散热不良的恶劣的工作环境中正常运作,缩短实验参数与实际使用的参数之间的差距,这种设计构思新颖,设计科学,具有巨大的经济效益和广泛的市场前景,值得推广使用。
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