本实用新型涉及PTC发热
芯片技术领域,尤其是一种PTC发热芯性能检测装置,包括盒体,所述盒体内部中端水平焊接有固定板,所述盒体内部两侧上端中部均开设有竖槽,所述竖槽内滑动设置有滑柱,两个所述滑柱之间连接有板体,所述板体下端均匀安装有多个温度测试针,所述固定板上端两侧与板体下端两侧之间连接有弹簧,所述盒体内部下端通过滑动机构滑动设置有移动架,所述移动架内部安装有多个U型盒,所述U型盒内部卡设有PTC芯片本体,所述U型盒一侧上端开设有贯穿U型盒的圆孔,所述盒体一侧下端开设有方形孔,所述盒体一侧上端安装有LED显示器。本实用新型结构稳定,能够一次性对多个PTC发热芯片进行温度检测,且操作便捷。
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