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一种PTC发热芯性能检测装置

934   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:22:11
本实用新型涉及PTC发热芯片技术领域,尤其是一种PTC发热芯性能检测装置,包括盒体,所述盒体内部中端水平焊接有固定板,所述盒体内部两侧上端中部均开设有竖槽,所述竖槽内滑动设置有滑柱,两个所述滑柱之间连接有板体,所述板体下端均匀安装有多个温度测试针,所述固定板上端两侧与板体下端两侧之间连接有弹簧,所述盒体内部下端通过滑动机构滑动设置有移动架,所述移动架内部安装有多个U型盒,所述U型盒内部卡设有PTC芯片本体,所述U型盒一侧上端开设有贯穿U型盒的圆孔,所述盒体一侧下端开设有方形孔,所述盒体一侧上端安装有LED显示器。本实用新型结构稳定,能够一次性对多个PTC发热芯片进行温度检测,且操作便捷。
声明:
“一种PTC发热芯性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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