本实用新型提供一种集成电路的抗干扰性能检测设备;包括设备架,设备架的底部通过螺栓安装有抗干扰箱,且抗干扰箱的内部通过轴承活动连接有螺柱,螺柱的外壁螺纹连接有移动件,螺柱的一端焊接有手柄,移动件的顶部通过螺栓安装有抗干扰架,抗干扰架的外壁两侧均固定安装有测试杆,测试杆的外部固定绕设有电磁圈,设备架顶部的一侧焊接有调整箱,调整箱的内壁一侧通过螺栓安装有电机,且电机的端部焊接有驱动件,调整箱的顶部活动插接有竖直杆,本设计在抗干扰箱中的螺柱转动后,螺柱外部的移动件能够将抗干扰架和测试杆移动至集成电路附近,从而使集成电路进行抗干扰的检测,且抗干扰强度能改变。
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