本实用新型公开了一种半导体
芯片用的电性能检测设备,包括底座,所述底座的顶部对称固定安装有两个输送组件,单个所述输送组件的外表面安装有电机,两个所述输送组件之间共同安装有传动轴,两个所述输送组件均安装有多个连接件,相邻两个所述连接件之间共同安装有放置槽,所述底座的顶部一侧固定连接有支架,所述支架的顶部安装有伸缩杆,所述伸缩杆的活动端固定安装有检测板。本实用新型中,整体采用流水线式设计,对半导体芯片的检测更为迅速,能够满足一些大公司的检测需求;再通过设置的连接件和可拆卸的转换板,可以根据不同型号规格的半导体芯片更换相应的放置槽、转换板和探针板,从而增加整体适用性。
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