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一种半导体芯片用的电性能检测设备

945   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:22:10
本实用新型公开了一种半导体芯片用的电性能检测设备,包括底座,所述底座的顶部对称固定安装有两个输送组件,单个所述输送组件的外表面安装有电机,两个所述输送组件之间共同安装有传动轴,两个所述输送组件均安装有多个连接件,相邻两个所述连接件之间共同安装有放置槽,所述底座的顶部一侧固定连接有支架,所述支架的顶部安装有伸缩杆,所述伸缩杆的活动端固定安装有检测板。本实用新型中,整体采用流水线式设计,对半导体芯片的检测更为迅速,能够满足一些大公司的检测需求;再通过设置的连接件和可拆卸的转换板,可以根据不同型号规格的半导体芯片更换相应的放置槽、转换板和探针板,从而增加整体适用性。
声明:
“一种半导体芯片用的电性能检测设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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