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一种新型晶体性能检测电路

993   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:19:39
本发明一种新型晶体性能检测电路,由待测晶体(X)、第一三极管(VT1)、第二三极管(VT2)、第一二极管(VD1)、第二二极管(VD2)、灯泡(D)、第一电容(C1)、第二电容(C2)、第三电容(C3)、第四电容(C4)组成;其中第一电容(C1)与第二电容(C2)串联然后与待测晶体(X)并联;第一三极管(VT1)的基极与待测晶体(X)连接,其集电极与电源正极连接;第二三极管(VT2)的发射极与电源地连接,其集电极与灯泡(D)连接。该检测电路是由两只晶体管构成的晶体性能测试电路,可以检测晶体能否振荡。
声明:
“一种新型晶体性能检测电路” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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