本申请公开了一种超声反射性能检测系统和方法,用于测试电子设备的超声性能,该超声反射性能检测系统包括:密闭箱体;运动导轨,设置于所述密闭箱体中;反射部件,滑动连接于所述运动导轨;其中,所述电子设备和所述反射部件分别位于所述运动导轨的两端,在所述电子设备与所述反射部件相互靠近的过程中,所述电子设备发射的超声波信号经所述反射部件的反射,被所述电子设备接收。利用本申请提供的检测系统能够提高超声检测精度。
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