本实用新型属于半导体激光器领域,特别涉及一种半导体激光管性能检测装置,包括MCU模块,MCU模块依次通过电压转换模块、测试电压模块与测试模块连接,MCU模块还分别通过译码器模块、测试电流模块、多路选择模块与测试模块连接;测试模块包括若干并联的待测模组,待测模组包括一P型MOS管和待测半导体激光管,P型MOS管的源极连接半导体激光管正极,其漏极接收测试电压模块提供的测试电压,半导体激光管的负极接收测试电流模块提供的测试电流。本新型通过MCU对整体装置进行控制可同时对多个激光二极管进行性能检测,减少了多检测时需要的数据传输通路,简化了电路结构,可对测试电压和电流进行调节,保证了整个装置的低功耗运行。
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