本发明提供了一种LED光电性能检测系统及检测方法,包括:TEC控制器、加热平台、水箱、光电
检测仪;其中,TEC控制器与加热平台电连接,用于控制加热平台的温度;水箱通过水管与加热平台连接,用于快速冷却加热平台;加热平台放置于光电检测仪的置物台的一个端面上,用于控制待检测LED器件的工作温度。从而实现了实时检测LED器件在不同恒定温度下的光电性能,检测的温度范围更广,能够检测LED器件在低温与高温情况下的光电性能,模拟LED器件在极端条件下照明情况;同时,也解决了目前冷热冲击系统降温升温慢的问题,并且能够检测LED器件在温度突变的情况下的光电性能,模拟LED器件照明在温度冲击条件下的光电性能。
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