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用于大口径光学元件光学性能检测的三维平台

582   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:14:56
一种用于大口径光学元件光学性能检测的三维平台,包括水平移动(X轴)部分、竖直移动(Z轴)部分和水平旋转(C轴)部分。提出了一种针对不同尺寸光学元件可灵活装夹,并满足多种光学性能检测的平台设计方案。通过对机床的结构的合理布局,在最大限度预留多种光学性能检测所需要三维空间的同时,也解决了常规机械平台在光学检测领域通用性差的问题。
声明:
“用于大口径光学元件光学性能检测的三维平台” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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