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一种集成电路性能检测用测试装置

681   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:14:55
本发明涉及一种测试装置,尤其涉及一种集成电路性能检测用测试装置。本发明提供一种能够减少对芯片的摩擦损坏程度,也能够进行芯片分类存放的集成电路性能检测用测试装置。本发明提供了这样一种集成电路性能检测用测试装置,包括有第一安装座、第一导轨、第一连接板、第一滑块、第二导轨等,第一安装座左部上侧安装有第一导轨,第一导轨上侧开有放置槽,第一导轨上滑动式设有第一滑块,第一安装座右部上侧前后对称式设有第一连接板,两块第一连接板下部相向的一侧上均连接有第二导轨。通过电动吸盘将芯片吸附住,以此能够减少对芯片的摩擦损坏程度,通过第一储物框和第二储物框能够进行芯片的分类存放。
声明:
“一种集成电路性能检测用测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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