本实用新型属于光学元件性能检测设备技术领域,具体涉及一种用于光学元件性能检测的试验台。该试验台包括基座和工件台,所述基座用于支撑所述工件台并能够带动所述工件台共同移动,所述工件台上设有横向调节单元,所述基座包括支撑板,所述支撑板的下方设有可移动单元,所述可移动单元和所述支撑板之间设有高度调节单元,所述支撑板的上方的两个对称面上设有纵向调节单元,所述试验台的左、右两侧机架上均设有纵向限位单元。通过使用本实用新型所述的用于光学元件性能检测的试验台,能够为工件台提供一个可调节的安装基准面,同时装置本身具有能够实现平移运动,在工件台搬运过程中无需借助外部工具,简化了搬运过程。
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