本申请公开了一种磁编码器码盘的性能检测方法、装置、设备及介质,所述磁编码器包括码盘和高灵敏磁传感器,所述磁编码器码盘的性能检测方法包括:获取所述高灵敏磁传感器探测到的原始磁性信号,并统计所述原始磁性信号对应的弦波信号波形;计算所述弦波信号波形中磁感应强度峰值之间的误差值;基于所述误差值,确定所述码盘的磁性性能。本申请解决了对信号写入密度较高(小磁极矩)的磁码盘或磁码尺进行性能检测的准确性较低的技术问题。
声明:
“磁编码器码盘的性能检测方法、装置、设备及介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)