本发明提供一种存储
芯片的性能检测方法和系统,其中,方法包括:步骤S1:获取存储芯片的标识信息;步骤S2:基于标识信息确定检测方案;步骤S3:基于检测方案对存储芯片进行性能检测,输出性能检测报告;其中,标识信息包括:材质、型号、容量、存储速度、工作温度、响应时间其中一种或多种结合。本发明的存储芯片的性能检测方法,根据存储芯片的标识信息采用针对的检测方案,实现全方位的性能检测。
声明:
“一种存储芯片的性能检测方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)