本实用新型公开一种
芯片性能检测系统及其芯片性能检测装置,其中,芯片性能检测装置,包括:检测电路,包括至少两个电阻和电源,所述至少两个电阻串联连接;探针组件,所述探针组件包括探针:第一移动组件,用于放置待检测芯片,并将所述芯片的至少两个引脚移动至所述探针对应的区域;第二移动组件,用于将所述探针与所述芯片的至少两个引脚接触,以使得所述至少两个引脚通过所述探针电连接至所述检测电路。本实用新型技术方案旨在解决现有技术中不能完全将测出电性能不达标的芯片的技术问题。
声明:
“芯片性能检测系统及其芯片性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)