权利要求书: 1.一种金相显微镜观察半导体用载样台,包括基座(1),所述基座(1)的表面固定连接有连接架(2),所述连接架(2)的表面固定连接有观察台(3)和载片台(4),其特征在于:所述载片台(4)的内部设置有固定机构(5),所述固定机构(5)用于固定载玻片的位置;所述固定机构(5)中包含有固定块(51),所述载片台(4)的内部固定连接有转动块(52),所述转动块(52)的表面开设有转动槽(53),所述载片台(4)的内部通过块与槽滑动连接有固定轴(54),所述固定轴(54)的表面固定连接有固定柱(55),所述转动块(52)的表面固定连接有操作块(56),所述操作块(56)的表面开设有操作槽(57),所述操作块(56)的表面通过操作槽(57)滑动连接有操作杆(58),所述操作杆(58)的表面固定连接有操作轴(59),所述载片台(4)的内部开设有限位槽(510),所述固定块(51)的内部设置有伸缩机构(6),所述伸缩机构(6)用于调整固定位置的中心。2.根据权利要求1所述的一种金相显微镜观察半导体用载样台,其特征在于:所述伸缩机构(6)中包含有滑动槽(61),所述固定块(51)的内部滑动连接有伸缩块(62)。3.根据权利要求2所述的一种金相显微镜观察半导体用载样台,其特征在于:所述固定块(51)和伸缩块(62)的内部固定连接有转动柱(63),所述固定块(51)的内部通过转动柱(63)转动连接有连接块(64)。4.根据权利要求3所述的一种金相显微镜观察半导体用载样台,其特征在于:所述连接块(64)的表面固定连接有连接轴(65),所述连接块(64)的表面通过连接轴(65)转动连接有转角杆(66)。5.根据权利要求4所述的一种金相显微镜观察半导体用载样台,其特征在于:所述转角杆(66)的一端转动连接有滑动轴(67),所述滑动轴(67)的表面与滑动槽(61)的内表面滑动连接。6.根据权利要求5所述的一种金相显微镜观察半导体用载样台,其特征在于:所述转角杆(66)的一端与滑动轴(67)的表面转动连接。 说明书: 一种金相显微镜观察半导体用载样台技术领域[0001] 本实用新型涉及显微镜技术领域,具体为一种金相显微镜观察半导体用载样台。背景技术[0002] 目前实验室会用金相显微镜观
声明:
“金相显微镜观察半导体用载样台” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)