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X射线测厚仪

431   编辑:管理员   来源:马鞍山恒瑞测量设备有限公司  
2024-03-12 17:25:23
权利要求书: 1.一种X射线测厚仪,包括底座1,所述底座1上设有滑动轨道2,所述滑动轨道2上设有C型架3,其特征在于:所述C型架3的两侧设有一组相同的滑动支座4,所述滑动支座4包括两个支撑架41,每个所述支撑架41的底部均设有滚轮42,所述C型架3上端内部设有电离室31,所述C型架3下端内部设有射线源室32,所述C型架3上下两端的间隔为100mm 300mm。~2.根据权利要求1所述的一种X射线测厚仪,其特征在于:所述射线源室32内设有X射线发射器33,所述X射线发射器33包括X射线管331,所述X射线管331上连接有发射头332,所述X射线管331外设有油箱333,所述油箱上设有温度保护报警器334,所述射线源室32内还设有压力传感器34。3.根据权利要求1所述的一种X射线测厚仪,其特征在于:所述电离室31内设有X射线接收器35。4.根据权利要求1所述的一种X射线测厚仪,其特征在于:所述C型架3的上端部开口处设有激光位移传感器5,所述激光位移传感器5外连接有警示灯6。 说明书: 一种X射线测厚仪技术领域[0001] 本实用新型涉及测厚仪技术领域,具体为一种X射线测厚仪。背景技术[0002] X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时X射线强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。在现有技术CN215810722U中,该X射线测厚仪使用扫描枪,X射线的发射与接收性能较差,会导致测厚效果不理想。实用新型内容[0003] 本实用新型的目的在于提供一种X射线测厚仪,以解决上述背景技术中提出的问题。[0004] 为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种X射线测厚仪,包括底座,所述底座上设有滑动轨道,所述滑动轨道上设有C型架,所述C型架的两侧设有一组相同的滑动支座,所述滑动支座包括两个支撑架,每个所述支撑架的底部均设有滚轮,所述C型架上端内部设有电离室,所述C型架下端内部设有射线源室,所述C型架上下两端的间隔为100mm300mm。~[0005] 优选的,所述射线源室内设有X射线发射器,所述X射线发射器包括X射线管,所述X射线管上连接有发射头,所述X射线管外设有油箱,所述油箱上设有温度保护报警器,所述射线源室内还设有压力传感器。[000
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