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0 近日，正泰新能的ASTRO N7产品在国际权威机构RETC的UVID220测试中表现卓越，衰减率竟然低于2%，这是个好消息。这不仅证明了正泰新能产品的抗UVID性能，还显示了其高可靠性。
今年RETC在《2024光伏组件指数报告》中对UVID问题发出警告后，行业内对组件的UVID性能关注度直线上升。正泰新能的ASTRO N7在UV220辐射等级下的表现，比常规UV15认证标准强了15倍，衰减率还这么低，真是通过了一项严峻的考验。
在送测RETC之前，正泰新能已经对全系产品进行了UVID性能测试，结果同样令人满意。ASTRO N系列在UV60辐射等级下衰减率只有0.7%，在UV120的条件下也仅有1.2%，这显示了我们产品的稳定性。
正泰新能的ASTRO N系列之所以有这么出色的抗UVID性能，是因为正泰新能在电池钝化膜层结构优化和整体组件封装设计上下了大功夫。正泰新能注重每一个提升产品可靠性的细节，确保产品的每一个部分都经得起考验。
在电池膜层结构设计上，正泰新能采用了行业领先的薄膜沉积技术，能够精准控制电池钝化膜层的均匀性和致密性。结合LIF工艺，有效增强了膜层对紫外线的耐受度，从根本上改善了UVID问题。在封装材料上，我们选择了更高可靠性的胶膜封装方案，进一步降低了衰减风险。
正泰新能的质量检测体系非常严格，贯穿于组件生产的全流程。从原材料检验到成品抽检，实行100% AI检测，确保每一个步骤都符合最高标准，不放过任何可能影响产品可靠性的瑕疵。
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