合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> RAID-5全闪存磁盘阵列及提高阵列整体寿命的方法

RAID-5全闪存磁盘阵列及提高阵列整体寿命的方法

1025   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:44
本发明公开了RAID‑5全闪存磁盘阵列及提高阵列整体寿命的方法,包括:RAID控制器,所述RAID控制器与一个磁盘阵列连接,所述磁盘阵列包括若干个磁盘,每个磁盘是指固态硬盘SSD,所述固态硬盘SSD与RAID控制器连接;每个固态硬盘SSD用于存储校验块和数据块;针对磁盘阵列中的每个固态硬盘SSD,检查其已经接受的写操作数量是否大于第一设定阈值,如果磁盘阵列中所有固态硬盘SSD已经接受的写操作数量均大于第一设定阈值,则将校验块的分配策略调整为不平均分布,启动校验块迁移,从而将SSD的磨损度阶梯化处理。解决RAID‑5全闪存磁盘阵列面临的磁盘连续失效(Correlated Failure)问题。
声明:
“RAID-5全闪存磁盘阵列及提高阵列整体寿命的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记