本申请涉及一种寿命评估方法及装置;其中,寿命评估方法,包括:获取待测器件在极限工作温度下的第一失效率,以及在预设温度下的第二失效率;对第一失效率与第二失效率进行处理,得到加速因子;获取待测器件在极限工作温度下的第一寿命值;对加速因子与第一寿命值进行处理,得到待测器件在预设温度下的第二寿命值。本申请通过基于第一失效率以及第二失效率得到加速因子,缩短了加速因子的获取时间,并根据加速因子以及在极限工作温度下的寿命值,得到在预设温度下的寿命值,从而实现对待测器件进行寿命评估,避免在试验时,由于试验时间过长导致评估时间过长的问题,缩短了寿命评估时间,实现在较短时间内完成寿命评估。
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