本发明公开了一种考虑碳膜电阻器退化初值的可靠性评估方法,碳膜电阻器的可靠性分析领域,尤其针对碳膜电阻的伪失效寿命计算。将退化初始值的随机性引入到传统退化轨迹模型里面,并且计算样本退化数据的拟合残差平方和,制定择优准则令拟合残差平方和最小为最优退化轨迹模型,随后求出该退化轨迹模型的伪失效寿命,提升了后续可靠性分析的估计精度。
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