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考虑碳膜电阻器退化初值的可靠性评估方法

747   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:43
本发明公开了一种考虑碳膜电阻器退化初值的可靠性评估方法,碳膜电阻器的可靠性分析领域,尤其针对碳膜电阻的伪失效寿命计算。将退化初始值的随机性引入到传统退化轨迹模型里面,并且计算样本退化数据的拟合残差平方和,制定择优准则令拟合残差平方和最小为最优退化轨迹模型,随后求出该退化轨迹模型的伪失效寿命,提升了后续可靠性分析的估计精度。
声明:
“考虑碳膜电阻器退化初值的可靠性评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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