本发明公开了一种基于退化曲线相似度的射频电路健康度预测方法,先根据预定的退化参数确定测量的信号参数,然后训练得到各个信号参数对应的失效临界态的隐马尔可夫模型,将实际测量的各信号参数幅值输入失效临界态隐马尔可夫模型,计算得到实际数据对应状态相对于失效临界态的KL值,得到退化参数的KL值曲线K1,然后拟合得到拟合曲线K2,通过理想退化仿真得到理想退化数据KL值的理想曲线K3,根据到理想曲线K3的欧式距离计算曲线K1和曲线K2的相似度,计算参照KL值F0,最后根据拟合曲线K2计算得到预测时刻的KL值F1,得到健康度,然后根据相似度得到预测时刻的最终预测健康度。经过实验验证可知,本发明可以实现电子产品健康度的准确预测。
声明:
“基于退化曲线相似度的电子产品健康度预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)