合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 可控硅故障自测试方法、电路、连接器及电器设备

可控硅故障自测试方法、电路、连接器及电器设备

649   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:16
本发明涉及漏电检测技术领域,公开了一种可控硅故障自测试方法、电路、连接器及电器设备。本发明技术方案通过可控硅测试控制模块接收半波整流电路的交流同步信号,判断所述交流同步信号的交流幅值小于零时,开始对可控硅进行检测;在第一预设时间内输出开启信号至可控硅的受控端,以使所述可控硅导通,获取第一目标电压;在第二预设时间内输出开启信号至所述可控硅的受控端,以使所述可控硅导通,获取第二目标电压;根据第一目标电压及第二目标电压计算差值与阈值比较,判断所述可控硅是否失效,在所述可控硅失效时输出故障信号警示用户,实现了漏电检测电路中可控硅自检测,不需要人为控制检测。
声明:
“可控硅故障自测试方法、电路、连接器及电器设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记