一种固体钽电解电容器寿命预测方法,它有五大步骤:一、采集漏电流和电容量退化数据;二、确定退化轨迹模型和加速退化模型;三、外推各应力水平下钽电容的伪失效寿命;四、伪寿命分布假设检验及其未知参数估计;五、外推估计正常应力下钽电容的寿命。本发明利用灰色理论自适应双参数预测模型来建立电容器的退化轨迹模型,外推各应力水平下钽电容的伪失效寿命,结合阿伦尼斯加速退化模型,检验钽电容的伪寿命分布假设并估计其未知参数,外推估计正常应力下钽电容的寿命分布总体参数,形成基于漏电流和电容量退化的钽电容寿命预测曲线。它无需寿命试验,缩短了试验时间,节约了试验成本,解决了传统寿命预测精度不高、与工程实际不相适应的难题。
声明:
“固体钽电解电容器寿命预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)