本发明公开了一种基于Coffin‑Mason的LED引线寿命预测方法,属于LED测试技术领域,在加速寿命实验中增加功率循环载荷,通过有限元仿真计算获取金引线塑性应变幅,再结合温度与电流加速老化试验,拟合出样品的coffin‑mason公式,得到引线寿命与引线在不同工作条件下的应变幅的关系曲线,再对不同条件下的样品进行功率循环仿真计算得到应变幅,再根据公式预测出引线的实际寿命。本发明可实现对不同工作条件下的
芯片在金属引线疲劳失效方面的寿命预测;预测寿命效率高,预测准确性高,引入功率循环供电因素,提高了老化实验以及预拟合寿命预测经验公式的效率。
声明:
“基于Coffin‑Mason的LED引线寿命预测方法及测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)