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电子元件检测系统

1031   编辑：管理员   来源：中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:02
本申请涉及一种电子元件检测系统。所述电子元件检测系统包括：多个老化板；多个样品板，各样品板上均设有待测电子元件；样品板设置于老化板上，与老化板一一对应设置，并与老化板一一对应电连接；多个驱动板，与老化板一一对应电连接；检测控制装置，与各驱动板均电连接；检测控制装置用于设定测试条件、测试判定条件及测试控制信号，将测试控制信号传输至驱动板，并实时监测待测电子元件在测试过程中的运行状态，运行状态包括正常工作状态和失效状态；驱动板用于根据测试控制信号对待测电子元件进行测试。采用该电子元件检测系统能够提高检测效率。
声明：
“电子元件检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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