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失效点定位方法

861   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:38
本发明的一种失效点定位方法,包括:在硅衬底上选取测试结构区域;在测试结构区域中形成互连层结构,该互连层结构的上、下方不设置伪金属结构;选取该互连层结构作为测试结构,采用光诱导电阻变化技术对该测试结构进行失效点定位;其中,互连层结构的形成方法包括:设计光刻版图案,测试结构区域中的互连层结构图案上、下方不设置伪金属结构的图案;在硅衬底上形成介质层;利用光刻版为模版,经光刻和刻蚀,在介质层中形成互连层结构,互连层结构上、下方不具有伪金属结构。本发明的方法,去除了伪金属对激光束的阻碍,激光束可以直接照射到测试结构上,仪器能够接收到准确的反馈信号,从而提高了失效点定位准确率。
声明:
“失效点定位方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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